zeta-20泽塔三维轮廓仪

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最后更新: 2018-04-11 15:46
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产品详情

Zeta三维光学轮廓仪

Zeta-20A


                                                                   

卓越的三维成像和测量

基于ZDot™专利技术,Zeta-20A可以对近乎所有材料和结构进行成像分析,从超光滑到高粗糙度、低反射率到高反射率表面、透明到不透明介质。Zeta-20A使用模块化设计理念,为用户提供了一系列的硬件和软件选项来满足各种不同的测量需求,所有硬件安装和操作都简单易用。


多功能光学测试模组

Zeta-20A提供多种光学测试技术满足用户各种领域测试需求

• ZDotTM  Z点阵专利三维成像技术是Zeta所有系列产品的标配技术,

Z点阵独特的明暗场照明方案结合不同物镜帮助客户测量最“困难”的表面。

• ZIC 干涉反衬成像技术,实现纳米级粗糙度表面的成像及分析。

• ZSI 白光差分干涉技术,垂直方向分辨率可达埃级。

• ZX5 白光干涉技术,大视场下纳米级高度的理想测量技术。

• ZFT 反射光谱膜厚分析技术,集成宽频反射光谱分析仪,可测量薄膜材料的

厚度、折射率和反射率。                                         

测量通道和精度

 


光学系统参数

 

 

 电脑配置要求

处理器:  Intel Dual Core

操作系统:  Windows 7, 64位

内存:  4GB RAM (16GB 推荐),  ≥320 GB HDD

显示器:  24-inch LCD, 1920 x 1200 像素

振动要求

内置防震适用于大多数应用

可选被动和主动防震台

可选隔音罩

技术支持

质保: 一年(含人工)

软件: 两年内免费升级

使用手册: 随货附送

维修手册: 可选维修培训

校准: 权威机构认证台阶高度和膜厚标样片

厂务要求

电源:  100  – 230 VAC, 2 A

工作温度:  15° – 30° C, 非冷凝

真空 (可选):  600 mm Hg

设备尺寸(W x D x H): 36 x 48 x 61 cm

工作站尺寸: 52 x 66 x 51 cm

重量:  29.5 kg

 

 

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